uvled光源发出的紫外线能量到处都不均匀。 紫外线的强度随照射距离而变化。 从理论上讲，如果leduv点光源通过非吸收性介质在所有方向上均匀地辐射光，则辐照度与距离的平方成反比。 但是实际上uvled既不是标准点光源，也不在非吸收性介质中传播，而且传统的UV灯并不总是单点光源，如下图所示，UV灯发出的光会命中 从多个角度来看辐射计的检测器，在辐射计的正上方和倾斜方向的读数是不同的。 这种现象称为余弦偏差。 为了正确地测量不同角度的紫外线能量，仪器必须校正检测器和紫外线光源之间的角度，以避免任何影响。

角度余弦校正是通过修改检测器和光学组件（例如漫射器）的响应来实现的。 无论入射角，理想检测器和漫射器组合都具有单位角余弦校正。 对于现有仪器，光学元件被设计为在仪器中实现或复制余弦响应。 测量的第二个复杂之处在于，这些小型LED在各个方向上均发出不均匀的光。 电流uvled光源的光学特性使决定在哪里最好地测量其紫外线输出更具挑战性。

最近，uvled灯制造商已经开始开发可以再次改变其阵列输出的光学组件，有时旨在产生更高的辐照度指示器。 不同制造商开发的光学组件不一样，导致uvled辐照度标准测量不一致，更不用说行业标准了。 如上图所示，测量位置不同，即使相隔几毫米，测量结果也可能有很大差异。 半导体发光部位的能量可以高达70W / cm 2，在半球透镜的表面上降低到10W / cm 2，并且照明头的光输出窗口变为8W / cm 2，并且能量 距光输出窗口5mm的距离减半。 可以看出，不同的测量位置有很大的差异。 在市场上，一般在美国能量计测量生产，我认为值得推荐。

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